AMUSIG 颗粒尺寸分布后处理
Simcenter STAR-CCM+ 可以从在离散多相流体中使用 AMUSIG 方法的模拟中提取颗粒尺寸分布数据。然后可以使用累积分布图中的抽取数据进行详细的颗粒尺寸分布分析,或选择这些绘图中的特定点以描述和量化样本中颗粒尺寸的分布。
Simcenter STAR-CCM+ 提供以下选项,用于从离散多相流模拟中提取颗粒尺寸分布数据:
- 颗粒尺寸分布表 - 边界和颗粒尺寸分布表 - 区域 - 从边界/区域提取数据以绘制累积尺寸分布数据。
- 表面 D 值和体积 D 值报告 - 从累积绘图中选择特定点,以提供在表面积或体积方面尺寸小于指定或所需尺寸过小分数的颗粒的质量比例。
- 表面尺寸过小分数和体积尺寸过小分数报告 - 从累积绘图中选择特定点,以提供在表面积或体积方面尺寸小于指定颗粒尺寸(分离界限直径)的颗粒的质量比例。
- D[N] [相]直径(D 值)场函数 - 在此直径下,离散相总质量的
由较小颗粒组成,其中,
。
请参见 AMUSIG 的 D 值和尺寸过小分数。
根据模拟的目标和所需的后处理,执行以下操作:
后处理 | 步骤 | ||||||
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模拟中的累积尺寸分布数据。 |
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基于颗粒尺寸的累积分布图中的特定点。 表面 D 值/体积 D 值报告 |
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基于颗粒尺寸的累积分布图中的特定点。 表面尺寸过小分数/体积尺寸过小分数报告。 | |||||||
D 值场函数 | 要分析 D 值场函数,执行以下任一操作:
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